Beispiele für konkrete Themen, Anwendungen und Fragestellungen, die wir mit der modernen Oberflächen- und Schichtanalytik bearbeiten:
- Kontaminationen, Beläge, Verfärbungen
- Fehleranalyse an Defekten in Schichtsystemen mit FIB
- Fehleranalytik an thermoplastischen Kunststoffen mit XPS und FTIR
- Analytik an tribologisch beanspruchten Oberflächen
- Tribofilmbildung durch Schmierstoffadditive
- Visualisieren von Gefügestrukturen mit FIB
- Strukturelle und chemische Untersuchungen an geklebten Grenzflächen im TEM
- Quantitative Bestimmung der Zusammensetzung von Schichten auf Glas
- Analyse von Metallschichten in der Halbleiterindustrie mittels SIMS-Tiefenprofilanalyse
- Charakterisierung von DLC-Schichten
- LABS‐freie Bauteile: qualitativer und quantitativer Nachweis von Silikonen auf Oberflächen
- Bestimmung der Massenbelegung chemischer Elemente auf Oberflächen mit SNMS
- Korngrenzen und Phasengrenzen in polykristallinen Materialien auf atomarer Skala
- Schichtdickenbestimmung auf unterschiedlichen Größenskalen
- Untersuchung von Dotierprofilen in Halbleitern